1. Advanced transmission electron microscopy

کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم (دانشگاه تهران) (تهران)

موضوع: Transmission electron microscopy,Nanostructured materials -- Nondestructive testing

رده :
QH
212
.
T7
A35
2015

2. Advanced transmission electron microscopy

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing

رده :
QH212
.
T7A39
2015

3. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)

موضوع: Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy

رده :
TA417
.
23
.
R66
2012

4. Developments in materials characterization technologies

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Materials testing - Congress,Non-destructive testing - Congress,Materials - Microscopy-Congress,Metallography - Congress

رده :
TA
410
.
D48
1996

5. Developments in materials characterization technologies

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Materials testing - Congress,Non-destructive testing - Congress,Materials - Microscopy-Congress,Metallography - Congress

رده :
TA
410
.
D48
1996

6. Developments in materials characterization technologies: sympsoium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA

موضوع : Congresses ، Materials-- Testing,Congresses ، Non-destructive testing,Congresses ، Materials-- Microscopy,Congresses ، Metallography

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

7. Developments in materials charactrization technologies: symposium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع: Materials - Testing - Congresses , Non-destructive testing - Congresses , Materials - Microscopy - Congresses

رده :
TA
410
.
D48
1996

8. Electron optical applications in materials science

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)

موضوع: ، Materials-- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy

رده :
TA
418
.
5
.
M87

9. Electron optical applications in materials science

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع: ، Materials- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy

رده :
TA
418
.
5
.
M87

10. Imaging methods for novel materials and challenging applications.

پدیدآورنده:

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Materials-- Microscopy, Congresses,Nondestructive testing, Congresses

رده :
TA417
.
2
.
I58
2012

11. Miniaturized testing of engineering materials /

پدیدآورنده:

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Materials-- Microscopy,Materials-- Testing,Microchemistry

رده :
TA417
.
23
.
K37
2017

12. Symposium on microscopy,presented at the sixty second annual meeting, Atlantic City, N.J., June 25-26, 1959

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)

موضوع: ، Microscopy,Testing ، Materials

رده :
TA
406
.
5
.
A47
1959

13. Transmission electron microscopy of materials

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Electron microscopy,Materials -- Testing

رده :
TA417
.
23
.
T48
1979

14. Transmission electron microscopy of materials

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Electron microscopy,Materials -- Testing

رده :
TA
417
.
23
.
T48
1979

15. #Transmission electron microscopy of materials

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)

موضوع: Electron microscopy ،Materials -- Testing

رده :
#
TA
،#.
T48